ICPMS是一個(gè)以質(zhì)譜儀作為檢測器的等離子體(ICP),而質(zhì)譜學(xué)家則認為ICPMS是一個(gè)以ICP為源的質(zhì)譜儀。事實(shí)上,ICP-AES和ICPMS的進(jìn)樣部分及等離子體是及其相似的。ICP-AES測量的是光學(xué)光譜(165~800nm),ICPMS測量的是離子質(zhì)譜,提供在3~250amu范圍內每一個(gè)原子質(zhì)量單位(amu)的信息,因此,ICPMS除了元素含量測定外,還可測量同位素。
ICPMS的檢出限給人極深刻的印象,其溶液的檢出限大部份為ppt級(必需記牢,實(shí)際的檢出限不可能優(yōu)于你實(shí)驗室的清潔條件),石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級,ICP-AES大部份元素的檢出限為1~10ppb,一些元素在潔凈的試樣中也可得到令人注目的亞ppb級的檢出限。
ICPMS的ppt級檢出限是針對溶液中溶解物質(zhì)很少的單純溶液而言的,若涉及固體中濃度的檢出限,由于ICPMS的耐鹽量較差,ICPMS檢出限的優(yōu)點(diǎn)會(huì )變差多達50倍,一些普通的輕元素(如S、Ca、Fe、K、Se)在ICPMS中有嚴重的干擾,也將惡化其檢出限。
AAS是原子吸收光譜,因為只利用原子光譜中單色光照射,所以只能檢測一種元素的含量,不過(guò)檢測限比較低而且重現性比較好.ICP-AES是原子發(fā)射光譜,檢測原子光譜中的多條譜線(xiàn).檢測限也比較低,而且多通道的可以同時(shí)檢測多種原子和離子.比較方便.重現性也不錯.ICPMS是ICP質(zhì)譜聯(lián)用.利用質(zhì)譜檢測同位素含量來(lái)檢測元素的含量.檢出限低.效果理想。
以上三種技術(shù)呈現了不同類(lèi)型及復雜的干擾問(wèn)題,為此,我們對每個(gè)技術(shù)分別予以討論。
ICPMS的干擾:質(zhì)譜干擾、基體酸干擾、雙電荷離子干擾、基體效應、電離干擾、空間電荷效應。
ICP-AES干擾:光譜干擾、基體效應、電離干擾。
GFAAS干擾:光譜干擾、背景干擾、氣相干擾、基體效應。